1. An artificial intelligence approach to test generation

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه و مركز اسناد سازمان پژوهشهای علمی و صنعتی ایران (طهران)

موضوع: $AIntegrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,$AExpert systems )Computer science(,$AArtificial intelligence

رده :
TK
7874
.
S533
1987